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Physique de l’état condensé, chimie et nanosciences >> Matière ultra-divisée, physico-chimie des matériaux
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Développement de la spectroscopie de masse à temps de vol tandem pour les applications en microélectronique.

Département des Plateformes Technologiques (LETI)

Autre laboratoire

Background in Physics, Chemsitry or Materials Science - experience in advanced data treatment

01-01-2020

PsD-DRT-19-0115

jean-paul.barnes@cea.fr

Le CEA-LETI cherche à recruter un chercheur ou une chercheuse postdoctoral(e) pour développer des nouvelles applications de spectrométrie de masse des ions secondaires à temps de vol (TOF-SIMS) pour des applications en micro et nanotechnologies. Le ou la candidat(e) travaillera avec un nouvel instrument équipé avec un spectromètre de masse à temps de vol tandem, un FIN in-situ et un canon à cluster d'argon. Le projet de recherche sera articulé autour de trois axes ; ? Développent des méthodes corrélatives entre TOF-SIMS, AFM, XPS et Auger ? Amélioration de la sensibilité et efficacité des fragmentions dans la spectromètre tandem MS ? Développement des applications 3D FIB-TOF-SIMS amélioration de la résolution spatiale. Le ou la candidat(e) aura accès à une gamme étendu d'instruments à l'état de l'art sur la plateforme de nanocaractérisation du CEA Grenoble, pourra bénéficier des échantillons fait à façon issus des différentes filières technologiques du LETI. Ce projet sera mené en étroite collaboration avec l'équipementier.

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