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Défis technologiques >> Nano-caractérisation avancée
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Développement de la spectroscopie de masse à temps de vol tandem pour les applications en micro et nanotechnologies

Département des Plateformes Technologiques (LETI)

Laboratoire Analyses de Surfaces et Interfaces

Doctorat en chimie, physique ou science des matériaux

01-12-2020

PsD-DRT-21-0011

jean-paul.barnes@cea.fr

Nano-caractérisation avancée (.pdf)

Le CEA-LETI cherche à recruter un chercheur ou une chercheuse postdoctoral(e) pour développer des nouvelles applications de spectrométrie de masse des ions secondaires à temps de vol (TOF-SIMS) pour des applications en micro et nanotechnologies. Le ou la candidat(e) travaillera avec un nouvel instrument équipé avec un spectromètre de masse à temps de vol tandem, un FIN in-situ et un canon à cluster d'argon. Le projet de recherche sera articulé autour de trois axes ; - Développent des méthodes corrélatives entre TOF-SIMS, AFM, XPS et Auger - Amélioration de la sensibilité et efficacité des fragmentions dans la spectromètre tandem MS - Développement des applications 3D FIB-TOF-SIMS amélioration de la résolution spatiale. Le ou la candidat(e) aura accès à une gamme étendu d'instruments à l'état de l'art sur la plateforme de nanocaractérisation du CEA Grenoble, pourra bénéficier des échantillons fait à façon issus des différentes filières technologiques du LETI. Ce projet sera mené en étroite collaboration avec l'équipementier.

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